試驗(yàn)電壓

對(duì)試驗(yàn)電壓的要求

電壓波形

除非有關(guān)技術(shù)委員會(huì)另有規(guī)定,試品上的試驗(yàn)電壓應(yīng)是紋波因數(shù)不大于3%的直流電壓。

注：紋波幅值的增加直接與阻性電流的增加有關(guān)。有嚴(yán)重流注放電的絕緣試驗(yàn)會(huì)導(dǎo)致很大的紋波,和/或電壓跌落。濕試驗(yàn)和污穢試驗(yàn)要求電源能提供足夠人的阻性電流,參見(jiàn)GB/T22707。

容差

如果試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間不超過(guò)60s,在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)電壓測(cè)量值應(yīng)保持在規(guī)定電壓值的士1%以?xún)?nèi);當(dāng)試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間超過(guò)60s時(shí),在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)電壓測(cè)量值則應(yīng)保持在規(guī)定電壓值的士3%以?xún)?nèi)。

注：必須強(qiáng)調(diào),容差為試驗(yàn)電壓規(guī)定值與試驗(yàn)電壓測(cè)量值之間允許的差值。它與測(cè)量不確定度不同。電源的額定輸出電流應(yīng)使試品電容在適當(dāng)短的時(shí)間內(nèi)充電。但當(dāng)試品電容很大時(shí),也允許長(zhǎng)達(dá)幾分鐘的充電時(shí)間。當(dāng)進(jìn)行濕試驗(yàn)或污穢試驗(yàn)時(shí),電源(包括儲(chǔ)能電容)還應(yīng)能提供試品的瞬時(shí)放電電流且其電壓降應(yīng)小于10%。

試驗(yàn)電壓的產(chǎn)生

試驗(yàn)電壓一般用變壓器整流回路產(chǎn)生。對(duì)試驗(yàn)電源的要求很大程度上取決于試品的類(lèi)型和試驗(yàn)條件。這些要求主要由電源所提供的試驗(yàn)電流的數(shù)值和特性確定。試驗(yàn)電流的主要組成部分見(jiàn)后續(xù)。

試驗(yàn)電壓的測(cè)量

算術(shù)平均值、紋波因數(shù)和試驗(yàn)電壓的瞬時(shí)壓降應(yīng)使用滿(mǎn)足GB/T16927.2規(guī)定的認(rèn)可測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量。

在測(cè)量紋波、瞬態(tài)電壓或電壓穩(wěn)定性時(shí),測(cè)量裝置的響應(yīng)特性應(yīng)符合要求。

試驗(yàn)電流的測(cè)量

在測(cè)量流過(guò)試品的電流時(shí),可以區(qū)分出幾個(gè)獨(dú)立的分量。對(duì)同一個(gè)試品和同一試驗(yàn)電壓,各分量的大小可能差幾個(gè)數(shù)量級(jí)。

這些分量是:

a)電容電流：由于開(kāi)始加上試驗(yàn)電壓或由于試驗(yàn)電壓上紋波或其他波動(dòng)所引起。

b)介質(zhì)吸收電流：由于絕緣中發(fā)生緩慢的電荷位移而引起。電流可持續(xù)幾秒至幾小時(shí)。該過(guò)程局部可逆。當(dāng)試品放電或短路時(shí),可觀察到反極性電流。
c)持續(xù)泄漏電流：當(dāng)a)和b)分量衰減到零后,在恒定電壓下達(dá)到穩(wěn)態(tài)的直流電流。

d)局部放電電流。

測(cè)量 a)、b)、c)3個(gè)分量時(shí)需用量程較寬的儀器。應(yīng)注意保證儀器對(duì)某一個(gè)電流分量的測(cè)量不受其他分量的影響。對(duì)于非破壞性試驗(yàn),有時(shí)可以從觀測(cè)電流隨時(shí)間的變化規(guī)律中了解絕緣狀態(tài)。

每個(gè)電流分量的相對(duì)幅值和重要性取決于試品的類(lèi)型和狀態(tài)、試驗(yàn)的目的以及試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間。當(dāng)特別需要區(qū)分某一特定分量時(shí),相的測(cè)量程序由有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定。

應(yīng)使用校準(zhǔn)過(guò)的測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行電流測(cè)量。

應(yīng)使用GB/T7354局部放電測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的專(zhuān)用儀器進(jìn)行局部放電脈沖電流的測(cè)量。

注：由于直流電壓試驗(yàn)中可能出現(xiàn)破壞性放電,其電流遠(yuǎn)大于常規(guī)電流,因此通常應(yīng)在直流電流測(cè)量回路中使用電壓保護(hù)裝置。